Couvre la spectrométrie de photoélectrons à rayons X (XPS), une technique d'analyse de surface développée par Kai Siegbahn, expliquant ses composants, son mécanisme et ses méthodes d'analyse.
Couvre les techniques de caractérisation de surface telles que la spectroscopie SPM, Raman et IR, y compris les modes AFM, les artefacts, l'étalonnage, les vibrations moléculaires et les principes de spectroscopie IR / Raman.
Introduit des méthodes optiques en chimie, couvrant l'optique des rayons, les lasers, la spectroscopie et la physique des rayons X, en mettant l'accent sur les interactions lumière-matière et les avancées lauréates du prix Nobel.
Explore les interactions faisceau-matière, en se concentrant sur les phénomènes d'émission de l'ionisation électronique du noyau par les rayons X et les électrons, et la concurrence entre Auger et les émissions de rayons X.
Explique le principe de détection des rayons X à l'aide de cristaux de scintillation et discute des caractéristiques de matériaux comme CdWO4 et NaI:Tl.
Couvre l'historique et les principes des détecteurs de scintillation, des types de détecteurs, des exemples de cristaux et des applications des détecteurs.
