Explore la microscopie de la Force atomique, qui couvre les principes, les applications, la résolution, les mécanismes de rétroaction et les techniques d'imagerie.
Couvre les principes et les applications de la microscopie de la force atomique (AFM) pour la métrologie à l'échelle nanométrique, y compris les modes d'imagerie, les interactions tip-sample et le traitement de l'image.
Couvre les bases de la microscopie par sonde de balayage, la fabrication des bouts et la microfabrication nano-tip pour l'imagerie et la manipulation à l'échelle nanométrique.
Explore les interactions pointe-échantillon dans AFM, couvrant l'hystérésis, les modes de contact et sans contact, les mécanismes de rétroaction et la résolution d'image.
Explore les principes, les applications et l'importance de la microscopie de la Force atomique dans la recherche scientifique, y compris les études de structure biologique.
Explore les techniques de microfabrication pour les nanotips et les capteurs, les modes de contact en AFM, les forces capillaires et les capteurs et actionneurs intégrés.
Couvre les bases de la microscopie par sonde à balayage, en se concentrant sur la STM et l'AFM, en expliquant les principes, les techniques d'imagerie et les méthodes de spectroscopie.
Explore des techniques avancées de caractérisation morphologique des polymères à l'aide de l'AFM, couvrant l'imagerie en mode sans contact, les forces d'interaction, la fréquence de résonance et le déphasage.
Déplacez-vous dans des propriétés nanométriques, mettant l'accent sur les effets de surface et les phénomènes quantiques, explorant des propriétés électroniques, mécaniques, magnétiques, photoniques et chimiques uniques à l'échelle nanométrique.
Couvre les principes fondamentaux de la microscopie à sonde à balayage, y compris son histoire, ses principes, ses instruments et ses applications dans la recherche et l'industrie des semi-conducteurs.
Explore les forces, les pointes et les sondes utilisées dans la microscopie à sonde à balayage, en se concentrant sur les principes AFM, les limites de résolution des pointes et la fabrication de sondes en porte-à-faux.
Explore les fondamentaux de la microscopie à sonde à balayage, les types de pointes et les modes AFM pour l'imagerie et la manipulation à l'échelle nanométrique.
Explore les principes fondamentaux et les applications de la microscopie à sonde à balayage, y compris la configuration STM, la reconstruction de surface, le tunnel quantique et la microscopie à force de balayage.
Couvre la transition vers les appareils nanométriques, l'imagerie nanométrique, les forces capillaires, l'AFM du graphène et les capteurs et actionneurs intégrés.
