Explore les interactions faisceau-matière, les effets thermiques, les effets chimiques, les déplacements atomiques et les mécanismes d'émission de matière en microscopie électronique.
Explique la détermination de l'épaisseur du film à l'aide de techniques XPS et AES, couvrant les principes, l'instrumentation et les comparaisons analytiques.
Explore les techniques de spectroscopie d'énergie comme XPS et UPS, la spectroscopie Auger, la sensibilité de surface et la structure de bande de graphène.
Explore les interactions faisceau-matière, en se concentrant sur les phénomènes d'émission de l'ionisation électronique du noyau par les rayons X et les électrons, et la concurrence entre Auger et les émissions de rayons X.
Couvre la spectrométrie de photoélectrons à rayons X (XPS), une technique d'analyse de surface développée par Kai Siegbahn, expliquant ses composants, son mécanisme et ses méthodes d'analyse.
Explore la photoabsorption, la longueur d'atténuation et les processus subséquents, en discutant de la relation entre l'indice de réfraction et l'absorption, les champs électromagnétiques et les propriétés importantes des matériaux.
Explore l'interaction du rayonnement avec la matière, couvrant l'ionisation, l'excitation, la désexcitation, le bremsstrahlung, le rayonnement Cherenkov et le pouvoir d'arrêt.
Explore les principes des cavités et des lasers, y compris les résonateurs Fabry-Perot, les faisceaux gaussiens, les configurations de cavités et les processus d'émission stimulés par l'absorption et l'émission.
Explore l'interaction du rayonnement avec la matière, couvrant les types de rayonnement, la désintégration radioactive, l'ionisation et les processus liés aux collisions.
