Introduction de la spectroscopie par photoélectrons à rayons X (XPS) pour l'analyse de surface, couvrant les principes, les applications, le processus d'analyse et les techniques de profilage en profondeur.
Explore les synchrotrons, les techniques de rayons X, XPS, XPD, les configurations expérimentales, les déplacements chimiques et les méthodes complémentaires.
Explore les techniques avancées de caractérisation des polymères, en mettant l'accent sur les films minces, l'analyse de surface et les études d'interface.
Explore les techniques spectroscopiques à base de synchrotron et leurs applications dans la chimie locale, les structures magnétiques et les structures électroniques.
Explore les principes fondamentaux de la spectroscopie par photoélectrons à rayons X, les applications, les défis et les techniques de pulvérisation cathodique pour l'analyse de surface.
Explore la dépendance tissulaire de l'absorption des rayons X, le nombre atomique efficace, la composition tissulaire et les agents de contraste des rayons X.
Explore la ptychographie, une technique d'imagerie puissante utilisée dans les synchrotrons et les lasers d'électrons libres à rayons X, couvrant ses principes, applications et considérations expérimentales.
Couvre les principes et les applications de la spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie (EDX) dans les méthodes d'analyse élémentaire et de quantification en SEM.
Explique la détermination de l'épaisseur du film à l'aide de techniques XPS et AES, couvrant les principes, l'instrumentation et les comparaisons analytiques.
Explore les principes de la spectroscopie à rayons X et à photoélectrons ultraviolets, les applications et les études de cas sur les revêtements de TiO2 et les films dopés.
Couvre la spectrométrie de fluorescence X (XRFS), une technique d'analyse chimique utilisant les rayons X émis lorsqu'il est excité par un faisceau primaire de rayons X.
