Explore les techniques avancées en microscopie électronique de transmission, en se concentrant sur l'imagerie de contraste de phase et les réglages de la caméra.
Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électron-matière, les modèles de diffraction, la formation d'images, les principes de contraste et les configurations de détecteurs.
Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électroniques, la diffraction, la formation de contraste et la correction de l'astigmatisme.
Explore la microscopie à contraste de phase, une technique d'imagerie à contraste élevé sans étiquette d'échantillons transparents développée dans les années 1930 par Frits Zernike.
Couvre les techniques d'imagerie par microscopie électronique en transmission à haute résolution, en se concentrant sur le contraste de phase, les simulations et l'impact des aberrations sur l'interprétation des images.
Déplacez-vous dans l'effet de diffusion dynamique des franges d'épaisseur dans les images TEM, couvrant les équations, les diagrammes d'intensité et l'imagerie par faisceau faible.
Couvre les fondamentaux de la microscopie, y compris le fonctionnement de l'objectif, la création d'images et les techniques avancées comme la fluorescence et la super résolution.
Explore la microscopie à contraste de phase, les techniques de polarisation et l'utilisation de la lumière polarisée pour révéler des ordres moléculaires dans des échantillons.
Couvre les concepts fondamentaux de la microscopie, expliquant le besoin de grossissement au-delà de l'œil humain et introduisant des techniques d'imagerie avancées.
Explore la microscopie de contraste d'interférence différentielle, expliquant ses principes, équipement, interprétation d'image, et comparaison avec la microscopie de contraste de phase.
Explore l'histoire de la microscopie électronique à transmission et les progrès des techniques de correction des aberrations, en discutant de divers contrastes dans l'imagerie TEM.
Introduit des techniques de microscopie optique de base, y compris le contraste de phase et la microscopie à champ sombre, et discute des défis de l'identification des artefacts.
