Couvre l'analyse chimique à l'aide de la spectrométrie, en se concentrant sur les spectromètres de rayons X et d'électrons, les monochromateurs et les méthodes d'étalonnage.
Couvre la micro-analyse aux rayons X (XRMA) comparant les techniques d'analyse de la matière avec des faisceaux d'électrons, discutant du volume d'interaction, de l'émission, de la fluorescence et des effets matriciels.
Couvre la spectrométrie de photoélectrons à rayons X (XPS), une technique d'analyse de surface développée par Kai Siegbahn, expliquant ses composants, son mécanisme et ses méthodes d'analyse.
Couvre la spectrométrie de fluorescence X (XRFS), une technique d'analyse chimique utilisant les rayons X émis lorsqu'il est excité par un faisceau primaire de rayons X.
