Couvre la régression linéaire, la régularisation, les problèmes inverses, la tomographie par rayons X, la reconstruction d'images, l'inférence de données et l'intensité du détecteur.
Explore le développement historique et les applications industrielles de la radiographie et de la tomographie informatisée avec rayons X, gamma et neutrons.
Explore la perspective historique, les propriétés et les applications des rayons X, y compris la diffraction, la résolution atomique et les couleurs spectrales des éléments.
Explore les principes de la tomographie par rayons X, y compris la génération, l'interaction avec la matière, les méthodes de détection et des exemples pratiques.
Couvre la spectrométrie de fluorescence X (XRFS), une technique d'analyse chimique utilisant les rayons X émis lorsqu'il est excité par un faisceau primaire de rayons X.
Explore le réglage de fréquence basé sur le stress dans les dispositifs micro/nanomécaniques, couvrant le rayonnement noir du corps, la non-linéarité optique, NETD, et la gamme dynamique.
Explore les limites, la continuité et la continuité uniforme des fonctions, y compris les propriétés à des points spécifiques et les intervalles fermés.
