MSE-704: 3D Electron Microscopy and FIB-Nanotomography

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Séances de ce cours (9)

Microscopie 3D et nanotomographie FIB

Couvre les techniques 3D en microscopie électronique, FIB Nanotomography, traitement d'image et sujets avancés.

MultiStackReg: Enregistrement et transformation d'images

Couvre l'enregistrement et la transformation d'images à l'aide du plugin MultiStackReg aux Fidji.

Bases de traitement d'images

Couvre les bases du traitement d'image à l'aide de logiciels fidjiens et de méthodes avancées de TEM, SEM et de caractérisation.

Tomographie : Imagerie par sections

Couvre la méthode de reconstruction de structures 3D à partir de projections 2D dans divers domaines scientifiques.

Faisceau d'ions ciblé : principes et applications

Explore les principes et les applications de la technologie Focused Ion Beam (FIB), y compris l'imagerie, le fraisage et la microscopie 3D.

Traitement de l'image aux Fidji

Couvre les bases du traitement d'image à l'aide du logiciel fidjien, en se concentrant sur la gestion des fichiers et l'application de filtres.

Traitement d'image: Bases et reconstruction 3D

Explore le traitement d'images en 2D et 3D, couvrant les conditions d'imagerie idéales, l'analyse d'histogrammes, les outils, les étapes de reconstruction 3D et la visualisation.

Plasma Focused Ion Beam: Applications et Techniques

Explore la technologie Plasma Focused Ion Beam, couvrant l'imagerie de haute précision, le dépôt de matériaux et les contrôles automatisés du système.

3D EDX : Défis et applications

Explore les défis et les applications de 3D EDX, y compris les limites, la résolution et les techniques d'amélioration de la quantification.

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