Explore les principes et les applications de la tomographie, couvrant la tomographie par rayons X, la tomographie électronique et les techniques avancées.
Explore la formation d'images HRTEM par l'interférence de faisceaux transmis et diffractés, couvrant la fonction de transfert de contraste, la correction des aberrations et les techniques de récupération de phase.
Explore les méthodes d'analyse de surface à l'aide d'électrons, d'ions, d'atomes et de photons, en soulignant l'importance du ToF-SIMS pour une analyse de surface approfondie dans divers domaines.
Couvre les méthodes expérimentales, la pensée critique, la fraude scientifique et l'importance du doute dans la science, en utilisant divers exemples pour illustrer des concepts clés.
Explore les sources de bruit, le théorème de fluctuation-dissipation, le bruit d'amplificateur, les effets d'interférence et les erreurs de quantification dans les systèmes électriques.
Explore les techniques de réduction du bruit dans les systèmes électriques, couvrant des concepts tels que la transformée de Fourier, l'adaptation d'impédance et le tramage.
Couvre les principes de la microscopie électronique à balayage, y compris les signaux SEM, les détecteurs et le spectre d'énergie des électrons, ainsi que l'efficacité de la génération de rayons X.
Explore les interactions pointe-échantillon dans AFM, couvrant l'hystérésis, les modes de contact et sans contact, les mécanismes de rétroaction et la résolution d'image.
