Explore la caractérisation de la microstructure par la microscopie électronique à balayage, couvrant les interactions, l'étude de morphologie, l'analyse EDX et la distribution de phase.
Couvre les principes et les applications de la spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie (EDX) dans les méthodes d'analyse élémentaire et de quantification en SEM.
Explore les technologies de détection des rayons X, y compris les diodes semi-conducteurs et les scintillateurs, pour des applications dans l'imagerie des cellules cancéreuses et la détection des particules.
Explore les progrès de la spectroscopie dispersive à rayons X en microscopie électronique moderne, en mettant l'accent sur la sensibilité analytique et les limites de détection.
Explore les capteurs à grande surface pour la détection des rayons X, couvrant les méthodes directes et indirectes, les mesures de performance des détecteurs et les images de panneaux plats à matrice active.
Explore les aspects pratiques de la conception de l'optique primaire dans les lignes de faisceau, en se concentrant sur les miroirs à rayons X et les monochromateurs.
Discute des propriétés, de la sensibilité et du rapport signal-bruit des détecteurs de rayons X, ainsi que des erreurs systématiques comme les corrections de champ plat.
