Explore la perspective historique, les propriétés et les applications des rayons X, y compris la diffraction, la résolution atomique et les couleurs spectrales des éléments.
Explore la reconstruction de rétroprojection, les défis de résolution spatiale, la rétroprojection filtrée et le lien avec la transformation de Fourier.
Explore les synchrotrons, les lasers à rayons X, l'imagerie sans lentille, la fréquence de Nyquist, l'aliasing, le suréchantillonnage et les contraintes de diffusion des données.
Explore les principes et les applications de la radiographie gamma et neutronique dans les milieux industriels, en soulignant les avantages de l'utilisation des neutrons et en discutant des techniques spéciales et des applications industrielles.
Explore les interactions faisceau-matière, en se concentrant sur les phénomènes d'émission de l'ionisation électronique du noyau par les rayons X et les électrons, et la concurrence entre Auger et les émissions de rayons X.
Discute des propriétés, de la sensibilité et du rapport signal-bruit des détecteurs de rayons X, ainsi que des erreurs systématiques comme les corrections de champ plat.
Explore la microscopie à champ sombre, mettant en évidence son contraste amélioré, sa sensibilité élevée et son potentiel d'imagerie à haute résolution dans divers domaines scientifiques.
Couvre la spectrométrie de fluorescence X (XRFS), une technique d'analyse chimique utilisant les rayons X émis lorsqu'il est excité par un faisceau primaire de rayons X.
