Couvre les principes de la microscopie électronique à balayage, y compris les signaux SEM, les détecteurs et le spectre d'énergie des électrons, ainsi que l'efficacité de la génération de rayons X.
Explore les imperfections et les limites des amplificateurs opérationnels, y compris la tension de décalage, le gain fini, les restrictions de bande passante et le taux de rotation.
Explore les amplificateurs, les configurations d'amplificateurs, les circuits MOSFET, la réponse en fréquence et les paires différentielles dans les circuits électroniques.
Explore les technologies de capteurs dans MEMS, en se concentrant sur les capteurs de pression, les accéléromètres et les gyroscopes, et souligne l'importance de la fusion des capteurs.
Explore la large bande passante du signal, le taux de balayage, l'intégrité du signal, le décalage, la plage dynamique et le taux de rejet de l'alimentation dans les amplificateurs opérationnels.
Discute de la conception d'un amplificateur non inverseur avec indépendance de fréquence et expression de la tension de sortie en fonction de la tension d'entrée.
