Introduit la microscopie électronique, couvrant l'organisation pratique, la préparation d'échantillon, l'interaction rayonnement-matière, et les mécanismes de détecteur.
Fournit un aperçu du rôle de l'électron dans la science quantique, en se concentrant sur sa dualité onde-particule et le cadre mathématique de la mécanique quantique.
Couvre la formation de bandes semi-conductrices et présente des expériences démontrant le comportement des porteurs de charge et la dualité onde-particule dans les électrons.
Explore les interactions faisceau-matière, en se concentrant sur les phénomènes d'émission de l'ionisation électronique du noyau par les rayons X et les électrons, et la concurrence entre Auger et les émissions de rayons X.
Explore les principes de la microscopie électronique à balayage, les contrastes de signaux, les facteurs de résolution et les interactions d'échantillons.
Introduit les bases de la microscopie électronique à transmission, couvrant la diffraction électronique, les modes d'imagerie, la préparation des échantillons, les propriétés électroniques et l'imagerie à haute résolution.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris l'interaction de la matière électronique, les techniques d'imagerie et les sujets avancés connexes.
Explore l'ingénierie de la fonction d'onde, le contrôle de la cohérence, les phénomènes de speckle, la microscopie, la dynamique et les résonances plasmatiques.
Couvre les relations de dispersion pour les particules, y compris leurs expressions mathématiques et leurs applications en physique des particules et en microscopie électronique.
Couvre les principes et les applications de la microscopie électronique de transmission, y compris l'imagerie, la diffraction, les mécanismes de contraste et les techniques in situ.
Couvre le terme de diffusion de l'équation de Boltzmann et la diffusion des porteurs, y compris les phonons, les électrons, les photons et les molécules.
Explore les composants et le fonctionnement de la microscopie électronique de transmission, couvrant les systèmes de vide, l'émission d'électrons, les aberrations de lentilles et les types de détecteurs.
