Explore les principes de la microscopie électronique à transmission (TEM), les mécanismes de contraste, l'identification des dislocations et les méthodes de nettoyage des échantillons pour une imagerie précise.
Explore les phénomènes de diffraction, les interférences et les limitations de résolution dans les processus d'imagerie dus aux interférences des ondes.
Couvre la méthode Rietveld pour l'analyse de phase et le raffinement de la structure, y compris des critères pour un bon ajustement et des exemples d'ajustement simples.
Explore la modélisation à l'échelle atomique au moyen d'exercices interactifs et d'affectations notées, couvrant la cristallographie, la diffraction, les défauts et les modèles de régression.
Explore la céramique, la dualité onde-particule, la diffraction, les verres métalliques, les matériaux organiques et les propriétés et classifications des polymères.
