Explore les interactions faisceau-matière, les effets thermiques, les effets chimiques, les déplacements atomiques et les mécanismes d'émission de matière en microscopie électronique.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris l'interaction de la matière électronique, les techniques d'imagerie et les sujets avancés connexes.
Explore les interactions faisceau-matière, en se concentrant sur les phénomènes d'émission de l'ionisation électronique du noyau par les rayons X et les électrons, et la concurrence entre Auger et les émissions de rayons X.
Introduit les bases de la microscopie électronique, couvrant les composants, les interactions, les modes d'imagerie et les techniques de nanofabrication.
Explore les principes de la microscopie électronique à balayage, les contrastes de signaux, les facteurs de résolution et les interactions d'échantillons.
Explore la caractérisation de la microstructure par la microscopie électronique à balayage, couvrant les interactions, l'étude de morphologie, l'analyse EDX et la distribution de phase.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM), les détecteurs, les mécanismes de contraste et les applications en imagerie haute résolution.
Explore les principes EDS et ESEM, la détection des rayons X, l'efficacité de l'ionisation, la loi de Moseley et les environnements d'échantillons ESEM.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris les principes de fonctionnement, la génération d'images, la production de signaux et les défis.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris la configuration, les signaux et les défis tels que les dommages causés par le faisceau et la charge.
Couvre les principes de la microscopie électronique à balayage, y compris les signaux SEM, les détecteurs et le spectre d'énergie des électrons, ainsi que l'efficacité de la génération de rayons X.
Couvre les composants et les technologies utilisés en microscopie électronique, y compris les détecteurs, les lentilles, les aberrations et les porte-échantillons.
