Explore les techniques de caractérisation standard, en se concentrant sur la diffraction des rayons X et son importance dans la détermination des structures cristallines.
Explore les rayonnements synchrotrons, les sources de rayons X, les réalisations scientifiques et les faits saillants récents de la science des synchrotrons.
Explore la diffraction de Fresnel et de Fraunhofer, les observations en champ proche et lointain, la mise au point des lentilles et la diffraction des rayons X par les cristaux.
Explore le réseau réciproque dans les systèmes 2D, la diffraction du réseau et des structures atomiques, mettant l'accent sur la dispersion et l'interférence constructive.
