Couvre la source d'ions ALIS He et son application en microscopie à haute résolution, fournissant des détails de surface et un contraste de matériau remarquables.
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Explore les techniques de préparation d'échantillons pour la TEM, telles que la méthode du coin clivé et l'ultramicrotomie, en soulignant leur importance dans l'obtention d'échantillons de haute qualité.
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