Couvre les composants et les technologies utilisés en microscopie électronique, y compris les détecteurs, les lentilles, les aberrations et les porte-échantillons.
Couvre les bases de l'acquisition d'images, y compris les dispositifs optiques, les facteurs de résolution, les distorsions de la lentille et les technologies de capteur.
Présente des concepts optiques fondamentaux, couvrant la réfraction, la réflexion, l'interférence, la polarisation, et plus encore, explorant le comportement de la lumière dans différents médias.
Explore les aberrations optiques, y compris l'aberration sphérique, l'astigmatisme et l'aberration chromatique, et discute des méthodes pour les minimiser.
Explore les aberrations optiques en microscopie, y compris sphérique, chromatique, le coma, l'astigmatisme, et plus encore, impactant la qualité d'image et les méthodes de correction.
Couvre la correction des aberrations optiques majeures en microscopie et la conception d'objectifs couramment utilisés comme les achromates et les apochromates.
Couvre les techniques de microscopie électronique, les composants et les applications, y compris le développement historique, la correction des aberrations de la lentille et l'interaction des électrons avec la matière.
Explore les composants et le fonctionnement d'un microscope électronique à transmission (TEM), y compris les systèmes de vide, les sources d'électrons, les lentilles, les aberrations et les détecteurs.
Explore les champs électromagnétiques, les forces, les ondes, l'optique, l'interférence, la diffraction, la réfraction, la réflexion, les lentilles et les instruments.
Couvre la matrice de transfert 2x2 pour les systèmes optiques et la caractérisation à l'aide de paramètres de hauteur et d'angle, ainsi que les systèmes de lentilles et les pupilles d'entrée.
Explore la formation d'images HRTEM par l'interférence de faisceaux transmis et diffractés, couvrant la fonction de transfert de contraste, la correction des aberrations et les techniques de récupération de phase.
