Couvre les bases de l'acquisition d'images, y compris les dispositifs optiques, les facteurs de résolution, les distorsions de la lentille et les technologies de capteur.
Présente les bases de l'étalonnage de la caméra, y compris l'estimation des paramètres, les limitations du modèle de sténopé, l'imagerie de l'objectif, la profondeur de champ et les distorsions de l'objectif.
Présente les bases de la formation d'images, couvrant les images analogiques et numériques, la géométrie de la caméra, les systèmes de coordonnées et l'étalonnage de la caméra.
Couvre les composants et les technologies utilisés en microscopie électronique, y compris les détecteurs, les lentilles, les aberrations et les porte-échantillons.
Couvre les concepts fondamentaux de la microscopie, expliquant le besoin de grossissement au-delà de l'œil humain et introduisant des techniques d'imagerie avancées.
Explore les champs électromagnétiques, les forces, les ondes, l'optique, l'interférence, la diffraction, la réfraction, la réflexion, les lentilles et les instruments.
Explore la transformation des ondes sphériques en ondes convergentes à l'aide de lentilles et discute des propriétés des faisceaux gaussiens et de la focalisation des sources thermiques.
Couvre la matrice de transfert 2x2 pour les systèmes optiques et la caractérisation à l'aide de paramètres de hauteur et d'angle, ainsi que les systèmes de lentilles et les pupilles d'entrée.
Présente les bases de la microscopie électronique de transmission, couvrant l'interface utilisateur TEM, les paramètres de la caméra, la vue d'ensemble du vide et l'analyse d'images.
Explore l'histoire et les techniques de la vision informatique, couvrant la formation d'images, la transformation, les perspectives dynamiques et les indices d'estimation 3D.
Explore la connexion entre l'optique matricielle et l'optique à rayons dans les systèmes optiques, en se concentrant sur le traçage et l'imagerie de rayons.
