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Explore les techniques d'auto-test intégré (BIST) dans les systèmes VLSI, couvrant les avantages, les inconvénients, les détails de mise en œuvre et l'utilisation des registres à décalage à rétroaction linéaire (LFSR) pour la génération de modèles de test.
Explore les équilibres et l'analyse de stabilité dans les systèmes de contrôle multivariables, en mettant l'accent sur les valeurs propres et les modes de système.
