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Publications associées (4)

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Angular Resolved low loss EELS for Materials Characterization

Simon Schneider

Electron Energy Loss Spectrometry (EELS) in Transmission Electron Microscopy (TEM) is a powerful tool for the investigation of the electronic structure of materials. In the low loss regime, one can access the optical properties which are governed by the di ...

EPFL2013

Dynamic structure factors of Cu, Ag, and Au: Comparative study from first principles

Simon Schneider, Audrius Alkauskas, Cécile Hébert

We present a comparative theoretical and experimental study of dynamic structure factors (momentum-dependent loss functions) of the noble metals Cu, Ag, and Au in the energy range of 0-60 eV. The emphasis is on theoretical results that are compared with ne ...

Amer Physical Soc2013

Cathodoluminescence Mapping of Cherenkov-Radiation Generated Bloch-Modes in Planar Photonic Crystals by Fast Electrons

Romuald Houdré, Marco Cantoni, Simon Schneider, Nicolas Le Thomas, Cécile Hébert, Duncan Thomas Lindsay Alexander

Cambridge, Cambridge University Press2010