Thomas Bovay

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Publications associées (1)

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Surface Analysis by Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS): Principles and Applications from Swiss Laboratories

Thomas Bovay, Lukas Baumgartner, Anders Meibom, Stéphane Laurent Escrig, Florent Olivier Vivien Plane

Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) extracts chemical, elemental, or isotopic information about a localized area of a solid target by performing mass spectrometry on secondary ions sputtered from its surface by the impact of a beam of charged particles. ...

SWISS CHEMICAL SOC2022

Publications associées (1)

Surface Analysis by Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS): Principles and Applications from Swiss Laboratories

Thomas Bovay, Lukas Baumgartner, Anders Meibom, Stéphane Laurent Escrig, Florent Olivier Vivien Plane

SWISS CHEMICAL SOC2022