Passer au contenu principal

Recherche

Afficher tous les résultats pour

Accueil

Personne

Frédéric Sirois

Cette personne n’est plus à l’EPFL

À propos
Confidentialité
Mentions légales

Copyright © 2026 EPFL, tous droits réservés

Graph Chatbot

À propos de ce résultat

Cette page est générée automatiquement et peut contenir des informations qui ne sont pas correctes, complètes, à jour ou pertinentes par rapport à votre recherche. Il en va de même pour toutes les autres pages de ce site. Veillez à vérifier les informations auprès des sources officielles de l'EPFL.

Publications associées (10)

Veuillez noter qu'il ne s'agit pas d'une liste complète des publications de cette personne. Elle inclut uniquement les travaux sémantiquement pertinents. Pour une liste complète, veuillez consulter Infoscience.

Resistivity of REBCO tapes in overcritical current regime: impact on superconducting fault current limiter modeling

Bertrand Dutoit, Bertrand Dutoit, Francesco Grilli, Frédéric Sirois, Nicolo' Riva

A detailed knowledge of the resistivity of high-temperature superconductors in the overcritical current regime is important to achieve reliable numerical simulations of applications such as superconducting fault current limiters. We have previously shown t ...

2020

Status of the European Union Project FASTGRID

Bertrand Dutoit, Bertrand Dutoit, Mathias Noe, Frédéric Sirois

High voltage direct current super-grids are one attractive solution for the transmission of bulk power of renewable electricity over long distances. Their protection is still an issue and superconducting fault current limiters (SCFCL) offer attractive pers ...

IEEE Institute of Electrical and Electronics Engineers2019

Evaluation of the Applicability of Phenomenological HTS Models for Numerical Analysis of Quenches in Coated Conductors: Simulations vs. Experiments

Bertrand Dutoit, Bertrand Dutoit, François Roy, Frédéric Sirois

The electrical resistivity of coated conductors is strongly related to the inter-dependent set of parameters (J, H, T), respectively current density, magnetic field and temperature. On the one hand, it is difficult to isolate the contribution of each of th ...

IEEE Institute of Electrical and Electronics Engineers2011