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Publications associées (18)

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Analysis of Functional Errors Produced by Long-Term Workload-Dependent BTI Degradation in Ultra-Low Power Processors

David Atienza Alonso, Ruben Braojos Lopez, Loris Gérard Duch, Miguel Peon Quiros, Alexandre Sébastien Julien Levisse

Aging effects in digital circuits change the switching characteristics of their transistors, resulting in timing violations that can lead to functional errors at the system level. In particular, BTI is a degradation effect that changes the threshold voltag ...

2020

An Inexact Ultra-low Power Bio-signal Processing Architecture With Lightweight Error Recovery

David Atienza Alonso, Ruben Braojos Lopez, Soumya Subhra Basu, Giovanni Ansaloni, Loris Gérard Duch

The energy efficiency of digital architectures is tightly linked to the voltage level (Vdd) at which they operate. Aggressive voltage scaling is therefore mandatory when ultra-low power processing is required. Nonetheless, the lowest admissible Vdd is ofte ...

Assoc Computing Machinery2017

An Inexact Ultra-low Power Bio-signal Processing Architecture With Lightweight Error Recovery

David Atienza Alonso, Ruben Braojos Lopez, Soumya Subhra Basu, Giovanni Ansaloni, Loris Gérard Duch

The energy e fficiency of digital architectures is tightly linked to the voltage level (Vdd) at which they operate. Aggressive voltage scaling is therefore mandatory when ultra-low power processing is required. Nonetheless, the lowest admissible Vdd is o e ...

2017