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Publications associées (31)

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Switching losses in power devices: From dynamic on resistance to output capacitance hysteresis

Elison de Nazareth Matioli, Armin Jafari, Palliyage Srilak Nirmana Perera, Remco Franciscus Peter van Erp, Hongkeng Zhu

In this paper, we review some of the main methods to characterize on-state and off-state losses in wide-band-gap devices under switching conditions. In the off-state, we will discuss about losses related to charging and discharging the output capacitance i ...

IEEE2023

Measurement of WBG-based power supplies

Elison de Nazareth Matioli, Armin Jafari, Hongkeng Zhu

This paper discusses different measurement methods to evaluate the efficiency of WBG-based power supply solutions, including electrical measurement methods and their verification with calorimetric methods, and compares the performance of Si-based and GaN-b ...

IEEE2023

Hard-Switching Losses in Power FETs: The Role of Output Capacitance

Elison de Nazareth Matioli, Reza Soleiman Zadeh Ardebili, Armin Jafari, Palliyage Srilak Nirmana Perera

For certain field-effect transistors (FETs) in soft-switching operation, the large-signal behavior of their output capacitance ( Co ) has shown to deviate considerably from the datasheet values. This can have a significant effect on hard-switching losses i ...

2021