Examine les interactions ion-cible dans les processus de pulvérisation de PVD, couvrant le dépôt composé, les dommages de surface et les facteurs influençant les taux d'éjection des cibles.
Explore les principes et les applications de la technologie Focused Ion Beam (FIB), y compris les interactions ion-solide, l'imagerie, le broyage et le dépôt.
Explore les mécanismes d'éjection des matériaux en spectrométrie de masse MALDI, en mettant l'accent sur les paramètres laser et les propriétés de matrice d'analyte.
Couvre la spectrométrie de masse des protéines, les principes fondamentaux de la protéomique, les sources d'ionisation, les analyseurs, les détecteurs, la précision de la masse, la résolution et diverses méthodes d'ionisation.
Explore les principes et les applications de la technologie Focused Ion Beam, couvrant l'imagerie, le fraisage, la préparation d'échantillons TEM, les structures nanofabriquées et la microscopie 3D.
Explore la fabrication de pointes et de porte-à-faux AFM, y compris l'affûtage de pointe, l'oxydation thermique, et l'utilisation de nanotubes de carbone comme sondes.
Couvre la spectrométrie de masse et les techniques tandem MS / MS pour l'analyse peptidique, en se concentrant sur l'ionisation, la fragmentation et l'identification de la séquence.
Explore les principes et les applications de la technologie Focused Ion Beam, y compris les interactions ion-solide, le broyage ionique et la nanofabrication.
Explore les systèmes micro- et nanoélectromécaniques, y compris les applications pratiques, les résonateurs RF, la détection des mouvements et la détection de masse sensible à l'aide de nanotubes de carbone.
Explore les méthodes d'analyse de surface à l'aide d'électrons, d'ions, d'atomes et de photons, en soulignant l'importance du ToF-SIMS pour une analyse de surface approfondie dans divers domaines.
