Présente le concept de métrologie, couvrant les mesures électriques, optiques et quantiques, avec un aperçu de l'histoire et de l'évolution du système international d'unités.
Couvre la métrologie à l'échelle nanométrique, la microscopie optique, la microscopie à force atomique, la microscopie électronique et la redéfinition des unités.
Explore la révision du Système international d'unités, en se concentrant sur le kilogramme, l'ampère, le kelvin et la taupe, et l'impact sur les mesures scientifiques.
Couvre les exercices sur le théorème de Bayes, les fonctions génératrices de moment, le nombre de photons, les probabilités de maladie et les propriétés de distribution.
Couvre la théorie des probabilités, les distributions et l'estimation dans les statistiques, en mettant l'accent sur la précision, la précision et la résolution des mesures.
Explore la métrologie électrique, mettant l'accent sur l'analyse du bruit et du signal, couvrant des sujets tels que les charges, les courants, les tensions et diverses sources de bruit.
Couvre les concepts fondamentaux de la microscopie, expliquant le besoin de grossissement au-delà de l'œil humain et introduisant des techniques d'imagerie avancées.
Explore l'histoire, l'architecture et les spécifications des capteurs d'images optiques, y compris les techniques de suppression du bruit et les méthodes de mesure.
Couvre les capteurs d'images optiques, la limite d'Abbe, les pixels de sous-résolution, les microlentilles, le vignettage et les détecteurs monophotons, y compris les aspects de métrologie SPAD.
Introduit les bases de la microscopie électronique, couvrant les composants, les interactions, les modes d'imagerie et les techniques de nanofabrication.
