Explore le mécanisme de stabilisation des particules colloïdales, soulignant l'importance de l'encapsulation pour la protection et la libération contrôlée.
Explique la détermination de l'épaisseur du film à l'aide de techniques XPS et AES, couvrant les principes, l'instrumentation et les comparaisons analytiques.
Explore les méthodes d'analyse de surface à l'aide d'électrons, d'ions, d'atomes et de photons, en soulignant l'importance du ToF-SIMS pour une analyse de surface approfondie dans divers domaines.
Explore la caractérisation de la céramique et des colloïdes, en mettant l'accent sur la morphologie des poudres, les distributions, les poudres tamisées et les méthodes d'analyse de la taille des particules.
