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Minghua Zhu

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Publications associées (12)

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Resonances on GaN-on-Si Epitaxies: A Source of Output Capacitance Losses in Power HEMTs

Elison de Nazareth Matioli, Minghua Zhu, Riyaz Mohammed Abdul Khadar, Armin Jafari, Mohammad Samizadeh Nikooytabalvandani

GaN-on-Si high-electron-mobility transistors (HEMTs) exhibit excellent properties for efficient power conversion. Nevertheless, a considerable energy loss associated with the charging and discharging of the output capacitance (COSS) in these transistors se ...

Institute of Electrical and Electronics Engineers2021

Enhancement Mode Tri-gate GaN Power Devices and Logic Circuits

Gallium Nitride (GaN) is one of the most promising materials for high frequency power switching due to its exceptional properties such as large saturation velocity, high carrier mobility, and high breakdown field strength. The high switching frequency of G ...

EPFL2021

P-GaN Tri-Gate MOS Structure for Normally-Off GaN Power Transistors

Elison de Nazareth Matioli, Jun Ma, Minghua Zhu, Pirouz Sohi, Catherine Erine, Mohammad Samizadeh Nikooytabalvandani, Luca Nela

In this letter, we present a new concept for normally-off AlGaN/GaN-on-Si MOS-HEMTs based on the combination of p-GaN, tri-gate and MOS structures to achieve high threshold voltage (V-TH) and low on-resistance (R-ON). The p-GaN is used to engineer the band ...

Institute of Electrical and Electronics Engineers2021