Publication

Seeing Big with Scanning Electrochemical Microscopy

Hubert Girault, Andreas Stephan Lesch, Fernando Cortes Salazar, Dmitry Momotenko, Gunther Wittstock
2011
Journal Articles

Résumé

Specialized microelectrode probes fabricated in a soft polymer film now make it possible to use scanning electrochemical microscopy to image the reactivity of large, corrugated, tilted, and dry surfaces.

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/e5b39b1b-3a8b-4251-b1c3-4acfd3a3acd6

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Hubert Girault, Andreas Stephan Lesch, Fernando Cortes Salazar, Dmitry Momotenko, Gunther Wittstock
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Concepts associés (5)

Microscopie à sonde locale

La microscopie à sonde locale (MSL) ou microscopie en champ proche (MCP) ou scanning probe microscopy (SPM) en anglais est une technique de microscopie permettant de cartographier le relief (nano-topographie) ou une autre grandeur physique en balayant la surface à imager à l'aide d'une pointe très fine (la pointe est idéalement un cône se terminant par un seul atome). Le pouvoir de résolution obtenu par cette technique permet d'observer jusqu'à des atomes, ce qui est physiquement impossible avec un microscope optique, quel que soit son grossissement.

Microscope à effet tunnel

thumb|Atomes de silicium à la surface d'un cristal de carbure de silicium (SiC). Image obtenue à l'aide d'un STM. Le microscope à effet tunnel (en anglais, scanning tunneling microscope, STM) est inventé en 1981 par des chercheurs d'IBM, Gerd Binnig et Heinrich Rohrer, qui reçurent le prix Nobel de physique pour cette invention en 1986. C'est un microscope en champ proche qui utilise un phénomène quantique, l'effet tunnel, pour déterminer la morphologie et la densité d'états électroniques de surfaces conductrices ou semi-conductrices avec une résolution spatiale pouvant être égale ou inférieure à la taille des atomes.

Microscope à force atomique

thumb|350px|Le premier microscope à force atomique du monde, au musée de la Science de Londres. Le microscope à force atomique (AFM pour atomic force microscope) est un type de microscope à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d'un échantillon. Inventé en 1985, par Gerd Binnig, Calvin Quate et Christoph Gerber, ce type de microscopie repose essentiellement sur l'analyse d'un objet point par point au moyen d'un balayage via une sonde locale, assimilable à une pointe effilée.

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Polysulfone Dispersed Liquid Crystals As Promising Materials For Flexible Substrates Of Organic Light Emitting Diodes

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Evaluation of materials for iodine and technetium immobilization through sorption and redox-driven processes

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Radioactive iodine-129 (I-129) and technetium-99 (Tc-9(9)) pose a risk to groundwater due to their long half-lives, toxicity, and high environmental mobility. Based on literature reviewed in Moore et al. (2019) and Pearce et aL (2019), natural and engineer ...

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Nanoscale Selective Passivation of Electrodes Contacting a 2D Semiconductor

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2D semiconducting materials have become the central component of various nanoelectronic devices and sensors. For sensors operating in liquid, it is crucial to efficiently block the electron transfer that occurs between the electrodes contacting the 2D mate ...

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